Elmada yüzey altı ezik tespiti
Elma makaralı hatta dönerken üstten ve yandan kısa dalga kızılötesi (SWIR) bantta görüntülenir. Kabuk altındaki ezik, görünür renkte seçilmezken kızılötesinde koyu bölge olarak çıkar; maske alanı eşiği aşan elma yan kanala ayrılır.
Ezik alanı ve konumu her meyve için kaydedilir; eşiği aşan meyvenin ret sinyali PLC'ye gider ve itici meyveyi oluğa alır. Sonuç operatör ekranında iki görüntü yan yana gösterilir.
- 01 Besleme
- 02 Görüntü
- 03 Analiz
- 04 Karar
- 05 Ayırma
Elmalar makaralı hatta dönerek istasyona gelir.
- Ezik alanı
- —
- Kızılötesi kontrast
- —
Sahneler temsilî simülasyonlardır; müşteri referansı veya performans garantisi değildir.
İhtiyaç
Taze ezikte kabuk rengi değişmez; hasar kabuğun altındaki dokudadır ve renkli kamerada sağlam meyveden ayırt edilemez. Ezik günler sonra kararır, o zamana kadar meyve paketlenmiş olur.
Çözüm yaklaşımı
Ezilen dokuda hücre suyu serbest kalır ve kısa dalga kızılötesi ışığı sağlam dokudan daha fazla soğurur. Geniş bantlı ışık altında alınan kızılötesi görüntüde ezik koyu bölge olarak belirir; bölge, sağlam meyve modelinden sapma olarak bölütlenir ve aynı noktanın görünür görüntüsüyle karşılaştırılır. Üst ve yan bakış ile dönme, tüm yüzeyi kapsar.
Süreç adımları
- 01
Besleme
Elmalar makaralı hatta dönerek istasyona gelir.
- 02
Görüntü
Önce üst, ardından yan kamera kızılötesi görüntüyü alır.
- 03
Analiz
Koyu bölgeler bölütlenir ve görünür görüntüyle karşılaştırılır.
- 04
Karar
Maske alanı eşik değerle karşılaştırılır.
- 05
Ayırma
Ezik elma itici ile oluğa alınır; sağlam elma hatta kalır.
İlgili uygulamalar
Uygulamanızı birlikte fizibilite edelim
Numunenizi laboratuvarımızda test eder; çözünürlük, optik ve aydınlatma seçimini raporlarız.