Güneş hücresi waferında kenar ve köşe geometrisi kontrolü
Wafer, iki dar bant arasındaki arka ışıklı açıklıkta üstten görüntülenir. Dış kontur nominal geometriyle karşılaştırılır; kenarı veya köşesi kopmuş wafer vakum tutuculu kartezyen kolla ayrılır.
Kontur sapması ve kusur konumu hat kontrolüne iletilir. Uygun olmayan wafer kartezyen kolla ayrı tepsiye alınır; nominal ve ölçülen kontur operatör ekranında üst üste gösterilir.
- 01 Besleme
- 02 Siluet
- 03 Görüntü
- 04 Karşılaştırma
- 05 Ayırma
Wafer dar bantlar üzerinde arka ışık penceresine gelir.
- Kontur sapması
- —
- Kayıp köşe alanı
- —
Sahneler temsilî simülasyonlardır; müşteri referansı veya performans garantisi değildir.
İhtiyaç
İnce wafer kenarı kırılgandır. Üstten aydınlatmada gri wafer ile taşıyıcı zemin arasındaki kontrast düşük kalır; küçük kenar ve köşe kopmaları seçilemez. Waferın bant üzerindeki kayması ve dönmesi de kontur ölçümünü etkiler.
Çözüm yaklaşımı
Dar taşıma bantları ölçüm alanını açık bırakır; alttaki panel waferı koyu bir siluete çevirir, dış kontur yüzey renginden bağımsız çıkar. Dik bakışlı kameranın görüntüsü kalibre edilerek kontur ölçü birimine taşınır, waferın kendi kenarlarına göre hizalanır; kenar ve köşe sapmaları nominal geometriye göre ölçülür.
Süreç adımları
- 01
Besleme
Wafer dar bantlar üzerinde arka ışık penceresine gelir.
- 02
Siluet
Arka ışık waferı koyu siluete çevirir.
- 03
Görüntü
Üstteki kamera dış konturu alır.
- 04
Karşılaştırma
Kontur nominal geometriye hizalanır; sapma ölçülür.
- 05
Ayırma
Köşesi kopmuş wafer ayrı tepsiye alınır.
İlgili uygulamalar
Uygulamanızı birlikte fizibilite edelim
Numunenizi laboratuvarımızda test eder; çözünürlük, optik ve aydınlatma seçimini raporlarız.